LED和其他光源

测角解决方案：近场测量
瑞淀的测角解决方案采用测角仪（SIG-400适用于LED和小型灯具）通过近场测量方法对光源进行建模。测角仪可测量光源的亮度（Lv）和发光强度分布（坎德拉），充分考虑空间原点和光线发射角度，确保全面了解在任何距离下看到的光源输出。成像系统可以测量光源的精确空间位置和角度，因此光源（比如：LED）的尺寸会影响照明模式，进而会影响测量数据。

测角系统生成射线集数据，可以快速输出IES、EULUMDAT（LDT）和瑞淀光源模型™（RSM）文件（或者用于测量统一眩光值(UGR)的亮度数据）。IES、LDT和RSM文件有助于照明设计，使用者可以将文件导出到常见的光学设计光线追踪软件中（比如ASAP®、FRED®、LightTools®、LucidShape®、Opticad®、OSLO®、OpticStudio™(ZEMAX)、SimuLux®、SPEOS®、TracePro®、Photopia™和IES TM-25）。

近场测量系统的特色：

• 将测角系统（比如：瑞淀测角仪）与成像色度计或亮度计（比如：瑞淀ProMetric成像系统）搭配使用
  • SIG-400 经过专门设计的测角仪，可用于测量小型光源（比如：单个LED）
• 创建光源的完整空间和角度输出模型
• 进行约1,500次测量，输出完整的表征
• 测量空间要求不高（<5m）
• 利用瑞淀光源模型（RSM）文件可推断远场分布（或射线追踪）数据

瑞淀的非测角解决方案采用成像色度计或亮度计，通过远场测量方法测量光源。在远场分布测量中，可以将ProMetric成像系统安装在三脚架上，并面向水平平面，以测量投射在墙壁上或穿过漫射器的光线。这使成像系统能够采集照度分布数据，并通过单次测量计算光源的发光强度。这种测量方法可以应用在实验室或生产线上的指定测量空间。测量值包括发光强度（cd），即给定方向上的光通量（lm）。远场测量系统可测量由光源投射的光束图形，因此灯具本身（比如：LED灯带）的尺寸不会像在近场测量场景中那样影响测量数据。

非测角系统生成照明设计的IES文件和位图文件（由成像系统采集）。IES文件有利于照明设计，可导出至常见的光学设计光线追踪软件（比如ASAP®、FRED^®、LightTools^®、LucidShape^®、Opticad^®、OSLO^®、OpticStudio^™(ZEMAX)、SimuLux^®、SPEOS^®、TracePro^®、Photopia^™和 IES TM-25）。

远场测量系统的特色：

• 仅使用成像色度计或 亮度计
• 测量任何光源的照度分布（光束图形）（光源尺寸对光束图形的测量无任何影响）
• 通过单次测量输出光源的完整特性
• 可作为量产运营中的质量保证
• 可将光线投射到墙壁或屏幕上以测量光线（光源反射）
• 通过漫射器测量光线（光源传播）