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车载曲面显示器微小缺陷测量方法

曲面显示器为制造商提供了用于汽车内饰的新设计灵活性,但同时也给显示器测量带来了挑战。本文介绍了一些实验室测试的结果,这些测试使用成像色度计和分析软件测量了1500R LED发光曲面显示器,以评估各种方法和系统规格的有效性,以优化汽车曲面中小缺陷检测(像素和线条)的准确性显示。在本白皮书中,您将学习:曲面显示器对汽车制造以及人类视觉舒适度的影响Radiant基于实验室的测试方法,用于弯曲显示器中的线条和像素缺陷分析基于各种系统分辨率(至16兆像素)和景深(至F / 13)的应用的测试结果不同测试方法的结果,包括单通道分析,多通道分析和多图像分析推荐用于实验室和生产环境的曲面显示器测试方法
曲面显示器为制造商提供了用于汽车内饰的新设计灵活性,但同时也给显示器测量带来了挑战。本文介绍了一些实验室测试的结果,这些测试使用成像色度计和分析软件测量了1500R LED发光曲面显示器,以评估各种方法和系统规格的有效性,以优化汽车曲面中小缺陷检测(像素和线条)的准确性显示。在本白皮书中,您将学习:曲面显示器对汽车制造以及人类视觉舒适度的影响Radiant基于实验室的测试方法,用于弯曲显示器中的线条和像素缺陷分析基于各种系统分辨率(至16兆像素)和景深(至F / 13)的应用的测试结果不同测试方法的结果,包括单通道分析,多通道分析和多图像分析推荐用于实验室和生产环境的曲面显示器测试方法

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通过精确地测量近红外光(NIR)光源实现有 效的3D面部识别

本白皮书探讨了3D感测及近红外光如何应用于面部识别系统,概述了测量近红外光发射辐射强度的重要性及获取准确的测量以确保智能手机、笔记本电脑和汽车等设备中内置面部识别系统的质量时所面临的挑战,介绍了Radiant内置NIR近红外光辐射强度测量镜头解决方案,并详述了该解决方案在评估消费类产品中所使用NIR近红外光发射器方面具备的优点。在本白皮书中,您将了解到:NIR近红外光泛光灯如何应用于飞行时间(TOF)测量以及如何使用衍射光学元件(DOE)创建结构光模式 NIR近红外光感测系统的质量和安全考虑因素 新的角度测量和点阵模式测量方法 如何使用软件分析工具测量940nm NIR近红外光发射器±...
本白皮书探讨了3D感测及近红外光如何应用于面部识别系统,概述了测量近红外光发射辐射强度的重要性及获取准确的测量以确保智能手机、笔记本电脑和汽车等设备中内置面部识别系统的质量时所面临的挑战,介绍了Radiant内置NIR近红外光辐射强度测量镜头解决方案,并详述了该解决方案在评估消费类产品中所使用NIR近红外光发射器方面具备的优点。在本白皮书中,您将了解到:NIR近红外光泛光灯如何应用于飞行时间(TOF)测量以及如何使用衍射光学元件(DOE)创建结构光模式 NIR近红外光感测系统的质量和安全考虑因素 新的角度测量和点阵模式测量方法 如何使用软件分析工具测量940nm NIR近红外光发射器±...

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头戴式增强现实(AR)和虚拟现实(VR)设备内置显示器测量解决方案

此份白皮书主要探讨NED近眼显示器测量挑战,介绍Radiant的集成式AR/VR镜头解决方案,并概述该解决方案在评估NED产品应用中人类视觉体验方面的优势。通过此份白皮书,您将会了解:近距离视角下任何缺陷都会被放大的NED近眼显示器的独特光学测量挑战Radiant的AR/VR测量镜头解决方案的几何结构,以及模拟人眼大小、位置和视场的产品特性。为何相机分辨率、镜头孔径和校准系数对于测量AR/VR近眼显示器至关重要?用于测量近眼显示器均匀性、点/线缺陷、MTF、对比度、视场等的软件分析工具
此份白皮书主要探讨NED近眼显示器测量挑战,介绍Radiant的集成式AR/VR镜头解决方案,并概述该解决方案在评估NED产品应用中人类视觉体验方面的优势。通过此份白皮书,您将会了解:近距离视角下任何缺陷都会被放大的NED近眼显示器的独特光学测量挑战Radiant的AR/VR测量镜头解决方案的几何结构,以及模拟人眼大小、位置和视场的产品特性。为何相机分辨率、镜头孔径和校准系数对于测量AR/VR近眼显示器至关重要?用于测量近眼显示器均匀性、点/线缺陷、MTF、对比度、视场等的软件分析工具

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了解显示器像素级测量的成像系统规范:CCD和CMOS传感器的测量性能比较

成像系统依靠传感器准确地将光解释为光度数据,并能够评估显示器。本文讨论目前用于基于图像的光度显示器测试的高分辨率传感器的性能,并通过测量实例比较传感器类型(CCD与CMOS)、像素尺寸和信噪比(SNR),以及这些性能对像素级显示测量数据的精度和重复性的影响。在本白皮书中,您将了解:像素级显示测量挑战测量重复性和精度的重要性测量系统规范分辨率信噪比 (SNR)光电传感器尺寸和井容光子传输曲线 (PTC)当前用于像素级测量的CCD与CMOS性能的比较
成像系统依靠传感器准确地将光解释为光度数据,并能够评估显示器。本文讨论目前用于基于图像的光度显示器测试的高分辨率传感器的性能,并通过测量实例比较传感器类型(CCD与CMOS)、像素尺寸和信噪比(SNR),以及这些性能对像素级显示测量数据的精度和重复性的影响。在本白皮书中,您将了解:像素级显示测量挑战测量重复性和精度的重要性测量系统规范分辨率信噪比 (SNR)光电传感器尺寸和井容光子传输曲线 (PTC)当前用于像素级测量的CCD与CMOS性能的比较

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采用可重复性方法测量防眩光车载显示的闪烁问题

本白皮书描述了一种标准闪烁测量方法,并提供了精确的几何、光学和软件参数。研究已经证明,该测量方法能够与人类视觉对显示器质量的感知相匹配,并提供可重复的结果。通过使用该方法,OEM制造商和显示器供应商可以确定精确且可测量的闪烁公差范围,并建立标准的防眩光显示器质量控制流程。
本白皮书描述了一种标准闪烁测量方法,并提供了精确的几何、光学和软件参数。研究已经证明,该测量方法能够与人类视觉对显示器质量的感知相匹配,并提供可重复的结果。通过使用该方法,OEM制造商和显示器供应商可以确定精确且可测量的闪烁公差范围,并建立标准的防眩光显示器质量控制流程。

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判断亮度测量型成像系统 是否适合您的检测应用的五个标志

亮度测量型成像解决方案缩小了机器视觉系统与真正的人类视觉之间的差距,提供一致且可量化的数据,完全可与人工检测员的视觉敏锐度相媲美。本白皮书中概述的五个指标旨在帮助用户了解亮度测量型成像解决方案的功能以及该解决方案对于高级检测应用的适用性。
亮度测量型成像解决方案缩小了机器视觉系统与真正的人类视觉之间的差距,提供一致且可量化的数据,完全可与人工检测员的视觉敏锐度相媲美。本白皮书中概述的五个指标旨在帮助用户了解亮度测量型成像解决方案的功能以及该解决方案对于高级检测应用的适用性。

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满足SAE平视显示器(HUD)测量标准的自动化解决方案

平视显示器(HUD)技术是汽车市场上最大的增长领域之一,本白皮书将为大家概述最新版 SAE J1757-2标准4 的要求,并介绍一些获得业界认可的HUD测量方法。
平视显示器(HUD)技术是汽车市场上最大的增长领域之一,本白皮书将为大家概述最新版 SAE J1757-2标准4 的要求,并介绍一些获得业界认可的HUD测量方法。

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分辨率和动态范围: 两个关键的CCD参数会对成像系统的性能产生哪些影响

分辨率和动态范围是评估成像色度计功能时必须考虑的两个重要参数。然而,我们很容易对这两个参数产生误解。经过一番仔细审视后,我们发现,这些规格的细节、制造商描述规格的方式以及不同规格之间的相互影响等因素,导致这两个参数要比上面的简单定义显得更为复杂。本白皮书将针对这两个关键参数进行详细阐述,帮助您进一步了解它们的作用以及它们对2D成像应用的影响。
分辨率和动态范围是评估成像色度计功能时必须考虑的两个重要参数。然而,我们很容易对这两个参数产生误解。经过一番仔细审视后,我们发现,这些规格的细节、制造商描述规格的方式以及不同规格之间的相互影响等因素,导致这两个参数要比上面的简单定义显得更为复杂。本白皮书将针对这两个关键参数进行详细阐述,帮助您进一步了解它们的作用以及它们对2D成像应用的影响。

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为 LED 光源、照明器和显示器选择测量系统

随着 LED 照明和显示屏的风起云涌,能够以准确、有意义的方式测量 LED 和基于 LED的系统的性能便日益重要。更加重要的是 LED 正日益取代更多传统技术。测量可为开发提供信息,表现成品的特性或进行评估,实现生产质量控制或使用中性能评估。本指南说明如何选择LED光源,照明器和显示器选择测量系统。
随着 LED 照明和显示屏的风起云涌,能够以准确、有意义的方式测量 LED 和基于 LED的系统的性能便日益重要。更加重要的是 LED 正日益取代更多传统技术。测量可为开发提供信息,表现成品的特性或进行评估,实现生产质量控制或使用中性能评估。本指南说明如何选择LED光源,照明器和显示器选择测量系统。

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有效测量大型光源的近场色度和亮度分布,以用于光学设计和仿真

大型光源的亮度和色度分布之所以难以测量,是因为光源和测量所需的物理空间都非常大。本文中,我们将介绍一种可以有效克服传统远场测量技术的物理限制、在有限空间内测量大型光源的方法。该方法使用一台经过校准的高动态范围的成像色度计,配合测角系统带动光源在成像色度计的视场内自动按一定顺序测量。本指南介绍了如何有效测量大型光源的近场色度和亮度分布,以用于光学设计和仿真。
大型光源的亮度和色度分布之所以难以测量,是因为光源和测量所需的物理空间都非常大。本文中,我们将介绍一种可以有效克服传统远场测量技术的物理限制、在有限空间内测量大型光源的方法。该方法使用一台经过校准的高动态范围的成像色度计,配合测角系统带动光源在成像色度计的视场内自动按一定顺序测量。本指南介绍了如何有效测量大型光源的近场色度和亮度分布,以用于光学设计和仿真。