MicroLED显示器均匀性测量和校正

MicroLED（也称为micro-LED、mLED或μLED）显示器的性能优点很突出，开辟了新一代背光和直显照明技术。MicroLED显示器通常由微小的LED（发光二极管）阵列组成，这些LED构成显示器的单个像素和亚像素元件。相比其他显示器技术，这种无机发光技术具有许多优点，包括高亮度和高对比度、宽色域、超长寿命和高像素密度，可以改进各种环境光线条件（从完全黑暗到全日光）和多种视角下的视觉性能。

作为单独的发光元件，microLED通常在像素级别显示亮度和颜色变化。这些变化要求分别测量和调整每个microLED，以确保整个显示器的视觉均匀性。因此，用于microLED制造的测量和校正系统必须能够以非常短的节拍时间精确量化每个发光元件（单个LED或子像素）的输出，以校正单个显示器中的大量发光源并减少浪费，提高生产效率。

白皮书中讨论的内容包括:

• 如何使用成像色度计，应用独特的设备规格，校准和软件功能来满足microLED的测量和校正要求
• 精确的microLED测量和配准方法：“间隔像素”（美国专利9135851）和“分数像素”（美国专利10971044）
• 增强色彩标定™工具如何增强与CIE匹配的三刺激滤光片成像系统的色度测量精度
• 测试数据和实际应用证明了各种测量和校正方法的优势