了解显示器像素级测量的成像系统规范:CCD和CMOS传感器的测量性能比较

白皮书

成像系统依靠传感器准确地将光解释为光度数据,并能够评估显示器。本文讨论目前用于基于图像的光度显示器测试的高分辨率传感器的性能,并通过测量实例比较传感器类型(CCD与CMOS)、像素尺寸和信噪比(SNR),以及这些性能对像素级显示测量数据的精度和重复性的影响。

在本白皮书中,您将了解:

  • 像素级显示测量挑战
  • 测量重复性和精度的重要性
  • 测量系统规范
    • 分辨率
    • 信噪比 (SNR)
    • 光电传感器尺寸和井容
    • 光子传输曲线 (PTC)
  • 当前用于像素级测量的CCD与CMOS性能的比较
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