网络研讨会：自发光显示器均匀性挑战：OLED 和 MicroLED 测试与校正
显示计量学是对光值的科学量化，可根据标准人眼观察者的感知方式对显示屏的视觉质量（从亮度、色度到对比度）进行评估。OLED、microLED 和其他自发光型显示技术为制造商带来了全新的测量挑战。它们之所以被称为 "自发光式"，是因为显示屏的每个像素都是独立的发光器（与传统液晶显示屏不同，液晶面板由 LED 背光照亮）。每个发光器都能显示出不同的亮度和色彩。由于 LED 没有 "混合 "在液晶面板后面，因此显示屏在观看者看来可能会不均匀（称为 "mura"）。
为了校正mura并确保均匀的外观，必须精确测量显示屏的每个像素，以便应用校正因子。这一校正过程称为demura。每个像素和子像素元素都可能小至微米，micro LED 可能只有几十微米，这给显示测量带来了一系列新的挑战。
在瑞淀光学系统的这次演讲中，区域销售经理 Chris Williamson 将与大家讨论自发光型显示器，并探讨其带来的质量挑战。他将介绍可用于OLED 和 microLED 显示屏的各种测量方法。本次网络研讨会还将介绍如何实现对自发光显示器的demura（校正），从而使面板、显示器和设备制造商能够提高质量和产量。主要内容包括：
- 了解OLED、microLED 和其他新型自发光显示器在显示质量方面面临的挑战
- 研究新的显示测量方法如何在 OLED 和 microLED 的单个像素和子像素级别检测mura（瑕疵）
- 了解自发光显示器缺陷的demura（校正）过程，并了解具有demura优势的先进测量系统示例。
演讲结束后的问答环节。
